中圖儀器非接觸式3d光學(xué)輪廓儀SuperViewW1能夠以?xún)?yōu)于納米級(jí)的分辨率，測(cè)試各類(lèi)表面并自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,，3D表面粗糙度,、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù)，廣泛應(yīng)用于光學(xué),，半導(dǎo)體,，材料，精密機(jī)械等領(lǐng)域,。是一款非接觸測(cè)量樣品表面形貌的光學(xué)測(cè)量?jī)x器,。

它采用光學(xué)干涉技術(shù)、精密Z向掃描模塊和3D重建算法組成測(cè)量系統(tǒng),，通過(guò)系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,，并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),，從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量,。

結(jié)果組成：

1、三維表面結(jié)構(gòu)：粗糙度,，波紋度,，表面結(jié)構(gòu)，缺陷分析,，晶粒分析等,；

2、二維圖像分析：距離,，半徑,，斜坡，格子圖,，輪廓線等,；

3、表界面測(cè)量：透明表面形貌,，薄膜厚度,，透明薄膜下的表面；

4,、薄膜和厚膜的臺(tái)階高度測(cè)量,；

5、劃痕形貌,，摩擦磨損深度,、寬度和體積定量測(cè)量；

6,、微電子表面分析和MEMS表征,。

主要應(yīng)用領(lǐng)域：

1、用于太陽(yáng)能電池測(cè)量,；

2,、用于半導(dǎo)體晶圓測(cè)量；

3,、用于鍍膜玻璃的平整度（Flatness)測(cè)量,；

4、用于機(jī)械部件的計(jì)量,；

5,、用于塑料，金屬和其他復(fù)合型材料工件的測(cè)量,。

SuperViewW1非接觸式3d光學(xué)輪廓儀非接觸高精密測(cè)量方式,，不會(huì)劃傷甚至破壞工件，而且測(cè)量速度快,，不必像探頭逐點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量,。對(duì)高深寬比的溝槽結(jié)構(gòu)，可以快速而準(zhǔn)確的得到理想的測(cè)量結(jié)果,。